在实际工作中待测量的样品通常由多个元件组成，并且除了待测元件之外的元件统称为矩阵。下面就由便携式光谱仪小编为大家介绍一下，由于基质成分在待测样品中是变化的(这种变化是指元素的变化，第二种是指内容的变化)，它直接影响元素特征X射线强度的测量。待测试。换句话说，待测元素的含量相同，并且由于基质组成的差异，待测元素的测量X射线强度不同。这是矩阵效应。基质效应是X射线荧光定量分析中的主要误差来源之一。
矩阵效应是一个不可避免的客观事实。物理本质是由激发(吸收)和散射引起的特征X射线强度的变化。除了要测试的元素之外，矩阵分量中靠近待测元素的元素照射激发源的光线。 X射线产生光电效应的概率远远大于轻元素(地质样品中一些常见的主要成岩元素)，即这些相邻元素向激发源发射的X射线和要测试的元素的特征。 X射线的吸收系数远大于轻元素的吸收系数;对于由激发源发射的光线和待测元件的特征X射线康普顿散射概率，光元件要大得多。
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为了便于描述，假设待测元素A，相邻元素B，C和光元素存在于样品中。元素B的原子序数大于元素A的原子序数.B元素可以被源发出的辐射激发，产生元素B的特征X射线BK.BKX射线也可以激发元素A;元素C的原子序数小于测得的元素A的原子序数，可以通过X射线特征X射线激发，产生X射线特征X射线;光元素的原子序数远离A，B和C元素的原子序数，并且被激发的概率很小。
元素A的特征X射线强度的影响如下：
1，源发出的辐射激发要测量的元素A，特征X射线AK线称为光电效应。手持式合金分析仪价格
2，当AKX线离开样品时，它遇到C元素以激发C元素特征X射线CK并且A元素特征X射线强度降低，这被称为吸收效应。
3，放射源激发B元素，BKX线激发A元素增加A元素的X射线特征，这被称为增强效应，也称为二次荧光。
4，源激发元素C和元素B，导致激发元素A的概率降低。
5，当放射源发射的辐射与光元件相互作用时，发生康普顿效应。可能会发生康普顿效应也可能具有多个康普顿效应。在康普顿效率发生后，部分光线能量损失在输出样本路径中。它可能会激发元素A，B和C，或者它可能不起作用，称为康普顿效应。
实际上，X射线吸收，增强和散射过程要复杂得多。如果要测试的元素与标准矩阵组件不一致，则不可避免地会导致分析结果出现大的误差。这是吸收效应，增强效果和散射效应，统称为基质效应。